Диагностирование цифровых объектов. Обработка реакций — Рассматриваются возможные типы неисправностей, возникающих в цифровых объектах. Анализируются традиционные методы обработки реакций объектов, предлагаются два новых метода, ориентированные на поиск одиночных дефектов, — метод суммарного вектора и метод суммарных векторов. ... Читать дальше »

Оптоэлектроника и нанофотоника — Изложены физические основы работы оптоэлектронных приборов и нанофотоники, систематизирован материал по излучающим, фотоприемным и индикаторным приборам; рассмотрены вопросы электронных устройствах применения оптоэлектронных приборов в аналоговых и цифровых. ... Читать дальше »